Soptop CX40P — универсальный поляризационный микроскоп отраженного и проходящего света

Микроскоп исследовательского класса с возможностью подключения камеры, и широким набором опций. Возможна работа в отраженном и проходящем свете.

• Отраженный и проходящий свет, светлое поле, поляризация
• Широкопольные окуляры 10x FN22 (опционально 15х FN16)
• Удобный конденсор с настройкой по Келеру, возможность работы в проходящем свете.
• Поляризационные объективы свободные от внутренних напряжений:
  5х, 10х, 20х, 50х и 100х.

Универсальный поляризационный микроскоп отраженного и проходящего света. Основное применение – измерение углов вращения плоскости поляризации минералов, изучение анизотропных и изотропных минералов . Может быть использован как прямой металлографический микроскоп или микроскоп для исследования препаратов на стеклах. Прямой микроскоп с разрешением до 0,4 мкм в латеральной плоскости. Поляризационные объективы, свободные от внутренних напряжений, вращаемый стол для определения углов поляризации кристаллов и минералов.

Soptop CX40P  — универсальное решение для минералогической лаборатории.

Микроскоп Soptop CX40P выполняется в трех конфигурациях – только для отраженного света (Soptop CX40PR), а также для отраженного и проходящего света (Soptop CX40PRT), либо только для проходящего света (Soptop CX40PT). При установке осветителя проходящего света, возможно реализовать освещение в светлом поле либо поляризацию.

• Широкопольные окуляры 10х FN22. Опционально 15х FN16.
• Бинокулярный тубус (Опция: тринокуляр с цифровой камерой).
• Револьвер объективов на 5 позиций
• Стопорный винт верхнего положения стола
• План-ахроматические поляризационные (POL) объективы до 100x включительно
• Плавная настройка интенсивности источника света
• Конденсор Аббе. Встроенная диафрагма со шкалой объективов.
• Полевая диафрагма встроенная в осветитель
• Винт перемещения предметного стола с эргономичными резиновыми ручками

Доступна версия с цифровой камерой и программным обеспечением на русском языке для проведения измерений в латеральной плоскости, построения мультифокальных изображений и сшивки полей зрения.